Αντικείμενο:
Ηλεκτρονική Φυσική & Μικροηλεκτρονική.
Μικροηλεκτρονικές και νανοηλεκτρονικές διατάξεις.
Δομικός και Ηλεκτρικός Χαρακτηρισμός υλικών
- Μελέτη αξιοπιστίας (reliability) διατάξεων MOS υποκείμενων σε ηλεκτρική καταπόνηση
- Μελέτη ημιαγωγικών διατάξεων μνημών με χρήση νανοκρυστάλλων.
- Μελέτη ημιαγωγών και διατάξεων Si και ΙΙΙ-V.
- Κατασκευή και μελέτη φθοριζουσών οθονών καθοδοφωταύγειας και διατάξεων ηλεκτροφωταύγειας (electroluminescent devices)
- Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός υμενίων άνθρακα για χρήση στη μικροηλεκτρονική
- Ανάπτυξη, δομικός και ηλεκτρικός χαρακτηρισμός διατάξεων MOS που περιέχουν υλικά πύλης υψηλής διηλεκτρικής σταθεράς (high-k) και μνήμες DRAM νέας γενιάς.
- Μελέτη διατάξεων MOS βασισμένων στο Γερμάνιο (Ge) όπου σα πρώτο απομονωτικό στρώμα διηλεκτρικού χρησιμοποιείται ένα οξείδιο σπάνιας γαίας για χρήση σε ερχόμενες γενιές διατάξεων CMOS.